NAND FLASH OOB/Spare Area
一.Nand Flash数据存储单元的整体架构
Flash Memory即闪存，是一种长寿命的非易失性（Non-volatile Memory Device,在断电情况下仍能保持所存储的数据信息）的存储器。
常见的Nand Flash内部只有一个chip，每个chip只有一个plane。而目前有些复杂的容量更大的Nand Flash内部有多个chip，每个chip有多个plane。
概念上由大到小来说就是：Nand Flash ⇒ Chip ⇒ Plane ⇒ Block ⇒ Page ⇒ oob
二. Nand Flash OOB
Nand Flash每一个Page对应一个空闲区域(spare area/OOB)，这个区域是基于Nand Flash的硬件特性，数据在读写的时候容易出错，为了保证数据的正确性，就产生了这样一个检测和纠错的区域，用来放置数据的校验值。OOB的读写操作，一般都是随着page的操作一起完成，也就是在read/write page的时候，产生了对应的OOB，那么OOB有什么用途呢？
1). 标记是否存在坏块
2). 存储ECC校验
3). 存储一些和文件系统相关的数据。如jffs2就会用到这些空间存储一些特定信息，而yaffs2文件系统，会在oob中，存放很多和自己文件系统相关的信息。所以首先需要检查坏块，如果是则跳过，然后写入数据，最后写入OOB数据。
- ECC校验
ECC（Error Checking and Correction)，是一种用于Nand Flash的差错检测和修正的算法。由于操作的时序和电路稳定性等原因，常常会出现一些bit出错，也就是原来的某个位，本来是0而变成了1，或者本来是1而变成0。但是如果恰好某个重要的文件的某一位发生了变化，那么可能会导致此时文件不能运行，如果这个文件是一个影响系统的程序，那么直接将导致系统会出现问题，所以对于Nand Flash就出现了这样一个机制。
向NAND Flash写数据时，每256或512字节会生成一个校验码写在每个page的OOB区，当从NAND Flash读数据时，每读取256或512字节数据，也会生成一个ECC校验码，拿这个校验码与存放在OOB区的校验吗对比看看是否一致，就可以知道读取的数据是否正确。
- 坏块处理
对于Nand Flash，比较严重的是坏块，也就是说一个块中包含有一个或者多个位是坏的，而现在对于坏块有两种分类
- 出厂的时候就存在坏块：在出厂之前，就会做对应的标记，标记为坏块，一般芯片厂商会将每个坏块第一个page的spare erea的第6个byte标记为不等于0xff。
2) 使用过程中产生的坏块，就需要将这个块作为坏块来处理，为了与固有的坏块信息保持一致，也需要将新发现的坏块的第一个page的spare eare的第6个Byte标记为非0xff的值。
对于上面的处理方式，如果我们需要擦除一个块之前，必须先要检查下第一个page的spare eare的第6byte是否为0xff, 如果是就证明是一个好块，是可以擦除；如果不是，就证明这是一个坏块，那么就不能擦除。对于这种方法，难免会出现一些错误操作，所以Nand Flash专门设计了一个BBT(bad block table)的坏块表用来进行管理。各个Nand的坏块管理的方法还不尽一样，有的会将bbt放到block0，因为block0一定是好块，但是block0一般是用来作为boot，那么也将导致不能放bbt，也有的会将bbt放到最后一个分区。
从上面可以看出，OOB是每一个页都会有的数据，里面存放的的有ECC，而BBT是一个flash才会有的，针对每个block的坏块识别是第一个page的spare erea的第六个字节。
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