影响电源效率的因素有很多，其中半导体功率器件和变压器的损耗占了大头。功率器件包括常用的MOS管和整流二极管，MOS管的损耗包括开关损耗和导通损耗，整流二极管的损耗一般是指正向压降损耗；变压器损耗分为铜损和铁损，铜损是指变压器里绕组铜线的损耗，铁损是变压器本身所用磁芯材料（铁磁性物质）的损耗。
铜损是很容易理解的，我们知道任何导电的物体都有电阻（超导除外），有电阻就会产生损耗，有损耗就会发热，进而影响电源的整机效率与可靠性。变压器绕组大部分采用的是铜线，因为铜线的电阻率低约为 1.724×10‾6 Ω，柔韧性好，还容易焊接。但对于工作于高频的开关电源来说，单根的铜线并不适用，原因就在于导线的趋肤效应。
如下图所示，趋肤效应会导致电流在导线的表面流动，从而导致导线的电阻增大，降低导线的利用率。
趋肤效应与哪些因素有关呢？很显然与工作频率有关，针对趋肤效应，我们有趋肤深度的计算公式：
式中f是频率，单位是Hz;是趋肤深度，单位为cm。从公式中可以看出，工作频率越高，趋肤深度就越低，可以通过下面的图来说明。
通过相关计算我们发现，常规的单根铜线工作在高频（100kHz以上）状态时，其电阻会增大到静态时的6倍以上，严重影响电源的效率。对于此，有什么好的解决方案呢？
- 采用多股铜线并绕的方式，这样就可大大降低趋肤效应造成的影响。特别是针对工作于兆赫兹的DC-DC开关电源，采用利兹线可以最大限度地消除高频时的趋肤效应。
- 采用铜箔片代替单根铜线。平面变压器的出现让使用铜箔片成为可能，因为平面变压器可以与PCB融为一体，利用PCB上的铜箔就可作为绕组使用，一举两得。