【E-Lock 藏经阁】05 LPC54101 单芯片门锁方案

指纹识别以其简单便捷的优势已成为智能门锁的标配,在常规智能门锁方案结构中,由独立的指纹模组来实现指纹识别及其处理功能,

结构如图 1 所示;

                                                                图 1   传统智能门锁方案框图

针对普遍的指纹、密码、NFC 门锁市场,世平集团推出基于 NXP LPC54101 的单芯片门锁方案,所谓单芯片是指把指纹算法集成到 MCU 上,采用 MCU 直接与指纹 Sensor 通讯的方式,传统的方式则是利用主控 MCU 搭配指纹模组,模组包含了 MCU 和指纹 Sensor,采用单芯片方案可以节省一颗算法 MCU 的成本。LPC54101 单芯片门锁的方案框图如图 2 所示,采用韩国 ADS TSM12 触摸 IC 做密码按键和功能按键,NFC 刷卡采用 NXP MFRC630,支持 ISO/IEC14443 A & MIFARE Classic,此外指纹 Sensor 与深圳贝特莱合作,多种外形可供选择。

                                                                                         图 2   LPC54101 单芯片门锁方案框图

图 3 是世平方案的 DEMO 板照片,详细标明了各部分外围器件和接口,支持多种功能:

➢ 支持指纹、NFC、密码方式开锁
➢ 存储容量支持指纹 100 枚、密码 50 组、卡片 100 张
➢ 支持单一/组合开锁模式,常开模式
➢ 支持防撬报警、应急充电、用户按键、OLED 显示
➢ 支持电量监测、语音播报、中英文切换

                                       图 3 LPC54101 DEMO 板

方案优势特点:
➢ 可量产:成熟的软硬件系统,做 UI 调整即可量产
➢ 单芯片:指纹算法集成于门锁主控,做到极致性价比
➢ 扩展性:已实现扩展 3D 人脸识别功能
➢ 开放性:软硬件技术资料全开放,WPI 技术支持
➢ 高品质:采用 NXP MCU+NFC 芯片,品质过硬

性能测试:
功耗测试:
⚫ 静态电流:系统休眠状态下电流: 35uA,峰值: 85uA
⚫ 动态电流:
测试密码开门瞬间电流峰值: 179mA
测试指纹开门瞬间电流峰值: 190mA
测试卡片开门瞬间电流峰值: 204.2mA

刷卡测试:
⚫ 可以正常注册卡片,并使用已注册的卡开锁,读卡距离: 4cm

ESD 测试:
测试条件:
⚫ 接触放电(± 8KV)
⚫ 空气放电(± 15KV)
使用 ESD 静电放电发生器对样品所有适合位置进行 30 次有效放电
测试结果:
⚫ 测试过程中未出现死机、电机转动
⚫ 测试结束后样品所有功能正常

动态老化测试:
测试条件:
⚫ 高温:60℃,湿度:98%,时间:24H 空气放电(± 15KV)
⚫ 低温:-20℃,湿度:0,时间:24H
⚫ 恒温:40℃,湿度:70%,时间:2H
⚫ 常温:20℃, 湿度:50%,时间:2H
测试结果:
⚫ 测试完成后,老化模式正常运行,无死机
⚫ 取出静置一段时间后,样品所有功能正常

【参考资料】:
① 《Application 推广 PPT 档_E-Lock》

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