一．前言
随着通信技术的不断突破，越来越多人用上了 5G 手机。5G 确实让人们在日常生活中使用手机体验感直线上升，同样也给 RF 设计领域带来巨大的变化。其中 PA 传导部分就和 4G 时有着明显的差别。
如上图所示，为 4G 手机传导部分框图。可以看到 Tx 信号从 Transceiver 到 PA，再经过 SAW 的ANT 端进入 TXM，最后传输到手机的 ANT 端。整个传输过程直接且平滑。这种传输 模式的问题在 5G 手机到来时就暴露出来了，那就是需要的前端器件过多。
消费终端产品体积有限，射频器件的增多，射频器件的集成化是必然趋势。并且 5G 网络有更多的新频段，对于前端模块要求就更高，那么将前端模块和 PA 集成化不失为一个有效的解决方案。集成化可以降低成本、提高性能，以及给系统集成商提供 turn-key 方案。目前集成主要是由 SiP 方式整合不同制程技术来制作功率放大器 (PA)、低噪声放大器 (LNA)、滤波器(Filter)、开关 (Switch) 和被动元件 (Passive) 等，5G mmWave 射频模组将走向高度整合趋势。射频前端模块的发展趋势将逐渐由离散型的 RF 元件，朝向整合型模组的FEMiD与PAMiD形式。
FEMiD 是双工前端模组，也就是集成了多个频段双工的前端模组；PAMiD 是集成了 MMMB PA和 FEMiD 的模组，集成度更高，并且要求 PA 模块中提供更多的 RF 开关、滤波和功率放大元件，这样一来 PA 模块的复杂性节节高升，将其他元件集成到 PA 模块里的压力也越来越大。
当然 RF 设计厂商也不能一开始就将所有频段的滤波都集成到一个模块里，有的频段还需要外接一个滤波器或是带滤波功能的双工器。这时候为了满足外接滤波器同样拥有最佳放大功能，原本 SAW 的 ANT 端直接连到 TXM。在新的设计方案中，PA 将信号传输到 SAW 后，再通过 ANT 端回到 PA，示意图如下：
可以看出，PA 和 SAW 构成了一个闭环链路，和以前的传导结构大不相同，调试方法也有所改变，那么接下来我们就来探讨新的调试方法。
二．RF 调试 FAQ —— 闭环 SAW ANT 匹配调试
- 闭环 SAW ANT 端匹配调试方法
问题描述：Tx 传导结构由以前的直通结构改为闭环结构，SAW ANT 端阻抗匹配调试方法如何调整。
原因分析：调试 4G 手机主板 SAW ANT 端匹配时，采用无源调试方法，可以将 PA 摘除进行调试。5G ENDC 方案支持 4G、5G 频段能共同工作，并且采用了高集成的 PAMiD，
没有集成到模块里的频段采用外接 SAW 的设计方案，原理结构和 4G 方案有所差别，调试方案也需要作出改变。
解决办法：不摘除 PA 进行无源调试，而是将 PA Tx π/T/L 型匹配的串位摘掉，并将 RF Cable 连接到刚才摘掉的串位靠近 SAW 的那个 pad 上，示意图如下（以 π 型网络为例）：
然后可以把靠近 SAW 的并位摘下来（建议NC），这样在调试过程中只关注 ANT 端的匹配。也就是说，按照上述连线方法，在网络分析仪上看无源图时，只能调试其收敛程度，而它在 Smith Chart 上的位置则不好调试。如果需要调试位置的话，可以用网络分析仪进行仿真，获得一个大概的匹配，后续进行有源测试的时候，如果性能不达标，再进行盲调。再有一个办法就是去 PA 按照旧的调试方法来调试 TX 匹配。但是这个方法的弊端的 SAW ANT-PA 这段闭环回路对位置的影响被忽略，可能会对真正的位置有影响，到 CMW 500 测性能时还需要微调。下面来验证一下新的调试方法。
下图为 4G 前端结构 B28 Full Band 收敛：
测试方法为去 PA 无源调试，连接方法如下：
下图为闭环 SAW ANT 匹配调试结果：
调试过程中，可以参考物料的 Spec，来检查收敛调试情况：
经过对比，使用新的调试方法得到的结果与 Spec 提供的参考收敛相似，可以推断出此方法是 可行的。
三、小结
其实使用上文中的方法调试 ANT 匹配尚可，但是调试 Tx 匹配时有很多不方便，如果再预留一个元器件，就更方便进行 Tuning，可以参考下图：
如果采用这种布局，那么成本也会增加，假如外接滤波器过多的话，要多走一段 RF 走线，还有在空间本来就很有限的主板上留出 0 ohm 的位置，与节省空间和成本的前端集成模块思想又背道而驰。当然前期在设计电路会进行仿真，可以酌情在个别频段采用这种布局。
四、参考资料
- 3GPP TS 36.521-1 V10.2.0(2012-06)
- B1250_v1.4_PreliminaryDataSheet
- https://rf.eefocus.com/article/id-334018
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