1、Flash 使用背景
目前的 MCU 一般都有自带内部的 flash 。客户又想着存一些数据 ，掉电还能保存数据 ，当存完代码后还剩下一些空间 ，那么我们就可以把内部的 flash 用起来，从上一篇 《 MCU 外设之 Flash 寿命测试 》 得知 ，其实 MCU 的内部 flash 还是值得被信赖的 ，擦写次数足够 。 这样做既可以省一颗外部 EEPROM 的成本 ，还很方便。
东西是好用 ，但是也有一些需要注意的事项的 。 这不 ， 前些天就有客户问了 ， 你们这颗 MCU 写 flash 的时候怎么导致 MCU 死掉了 ? 拉出代码 debug 一看 ，代码直接跑飞 ，指到了 0xFFFFFFE 。这是什么原因呢 ? 往回查代码 ， 发现有一处特别之处 ，代码开了 Systick 中断 。起初怀疑中断导致的 ，既然开始怀疑 ，那我们就开始测试看看 。 果断先把 Systick 中断去掉再去 debug 。
图一 擦除 Flash 代码跑飞
希望有奇迹出现 ，继续往下debug，果然程序顺利调过了擦除的函数Chip_IAP_ErasePage() , 同时可以看到 0x7800 处成功被擦除变成 0xFF . 如图二 。
图二 Flash 擦除正常
客户又问了，我的程序里面是要用到 Systick 的 ，有没有好的办法可以不去掉 Systick 的初始化呢 。此处思考一首歌的时间… 突然想起我们不是有关闭总中断的操作吗 ，上代码 。如图三 ，这样就可以完美解决了。
图三 开关总中断的操作
以上已经介绍了操作 flash 过程中出现程序跑飞的的情况以及解决的方法。有遇到这种情况的可以参考上面的说法去解决 。下面再看另外一种比较常见的 操作 flash 异常的情况 。
先看现象 ，当我们把擦写起始地址改成了任意地址 ，这里改成 0x7C01，发现都回来的 Flash 的值都是 0xFF，如图四 。我们容易发现 ，程序并不像上面那样会死机，只是读回值异常 。可以看到 MCU 在执行 Chip_IAP_CopyRamToFlash() 时 ，return code 为 0x3 ，如图五 。看手册可以知道 return code 为 0x3 时 ，错误描述为：SRC_ADDR_NOT_MAPPED
图四 Flash 读回异常值
图五 Flash return code
2、总结
LPC 系列 MCU 当操作 Flash 时出现上面提到的错误时 ，首先应该想到在擦写过程中是否有开中断 ，如果没有，则检查看有没有地址和擦写长度的问题。一般可以根据 IAP 命令的 return code 去找出错误原因。
参考资料：
- NXP 官网资料 UM10800 V1.1
- NXP 官网资料 LPC82x Product data sheet V1.2
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