本节目标：理解FF MIC密封性
1. 对于QCC芯片说，一般样机提到的密封性，都是FF MIC的密封性为主。在QACT工具中，在ANC Tuning模式下，选择E-path录音做分析。通常情况下，选择FF MIC没有堵住和FF MIC堵住两种状态下进行多次佩戴多次录音测试。
2. 如果说E-path中FF MIC录音在FF MIC堵住时比不堵住时低（全频段），说明这个样机的密闭性很好，反之则不好，例如下面：
红色曲线：噪声参考信号；
黄绿色曲线：FF MIC不堵录音；
绿色曲线：FF MIC堵住录音；
从图中看到，在300HZ以后基本都是FF MIC堵住时比不堵住时低，这是比较好的；前面低频段有有些许上扬，说明样机内部有泄露。从上扬的幅度来看在5DB左右，幅度有限，从整体FF MIC录音来看，比噪声参考信号相差比较大，从100HZ达到40DB以上，整体评价这种泄露的风险还是比较低的。
3. 对于E-path中FF MIC录音在高频出现的一些尖峰，通常都是由于高频共振引起，高频波长比较短，在腔体内部比较容易引起共振，只要不是太高太剧烈，一般都可以接受。
评论