NXP NCF3321 天线调试

一、 介绍

本文旨在描述 NCF3321 的 NFC 天线调试的一些相关内容 。可能会用到 NXP NFC 天线设计工具,如图 1.1 所示。网址:https://community.nxp.com/t5/NFC/bd-p/nfc

 


图 1.1  NFC Antenna Tool

        NCF3321 可以作为 NFC 读写器 IC ;目标阻抗可以改为较低的值,例如:16Ω。电磁兼容滤波电感可选用 160nH 。


二、 天线调试的 Excel 表

除了上述的 NFC 天线设计工具,还可以使用已知的 Excel 表格,如图 2.1 所示。


图 2.1 天线调试 Excel 表

对于一个简单的 45mm x 45mm 的 3 圈天线,测出如下参数:

L = 736.46nH

R = 1.06 Ω



图 2.2   天线测试图

       天线线圈本身的输入值应该从一个简单的测量中得到,测量要求尽可能准确地推导出电感  L 、电阻   和电容  。最简单的方法是使用  VNA 测量 13.56MHz 时天线线圈的阻抗 Z,并从中计算 L 和 R ,如图 2.2 所示。


三、天线电路仿真

可使用 RFSim99 对电路进行仿真,对于这个仿真,不建议自动匹配。匹配起始频点为 10MHz ,停止频点为 20MHz ,标记点为 13.56 MHz 。



图 3.1  仿真电路图

 

图 3.2 仿真 Simth Chart

        这个模拟出来的结果并不是我们想要的,我们可以用现有的元件来微调电路,

例如:可以使用 C2 = 470pF 与 39pF 并联的值来代替 C2 = 509pF。另外,模拟中的是理想电感,没有损耗,没有损耗的电感是不现实的,一般来说,每个电感器可以增加 1~3Ω。

 

3.1 电感损耗的影响

        影响最大的是 EMC 滤波器中的电感损耗,案例中设置为 1Ω,因为模拟电路中都是用的理想电感,所以在仿真中加入一个 1Ω 的电感损耗,从而模仿真实的电感,如下图 3.3 是已增加电感损耗的模拟电路,建议手动操作。



图 3.3 增加 L0 损耗的电路

 

仿真后,L0 不同阻抗的损耗的对比图如下所示:



图 3.4 L0 1R 的损耗

 

图3.4 L0 5R 的损耗

3.2 C0 的影响

        EMC 滤波器电容值 C0 对天线的影响也可以从 Smith 圆图中看出来,如下图,不同 C0 值太大或太小对调试的影响:


图 3.5 C0 值太小的影响



图 3.5 C0 值刚好



图 3.5 C0 值太大

 

四、小结

        本文主要介绍了 NCF3321 天线射频部分的天线调试,可使用 NCF 天线调试工具或者 Excel 表,然后用 RFSim99 模拟出 EMC 中的 L0 损耗及 C0 值对天线调试的影响,当然 C1 值和 C2 值对天线调试也是有影响的,大家可以自己动手模拟,看看是否能找出规律。

如想了解更多关于 NXP NCF3321 的天线调试,敬请联系世平集团 ATU 部门,<atu.sh@wpi-group.com>

 

【参考文献】

  • NCx3321 datasheet, nxp.com
  • NFC Antenna Design Hub, https://www.nxp.com/products/rfid-nfc/nfc-hf/nfc-readers/nfc-antenna-design-hub:NFC-ANTENNA-DESIGN-TOOL
  • AN_SCA 2105 NCx3321 Antenna Design Guide
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作者:Anda Du / 杜红

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