关于PAH8011ES 的 INT1与INT2开短路测试实现方法

关键字 :PixArt 心率穿戴

PAH8011ES的 INT1与INT2短路测试与开路测试
实现方法如下：

1. INT1与INT2短路测试
因为INT1与INT2为相邻PIN，有连锡短路风险，建议测试。
测试设定：
pah8011_verify_int_short_array
目前的此设定：INT1 拉高，INT2拉低。
测试流程：
调用pah_verify_INT_short（）函数，下完设定后，MCU检查INT1状态，
如果INT1与INT2短路，检查INT1状态会拉低
如果读GPIO，INT1电平为1，INT2为0，则PASS
static const uint8_t pah8011_verify_int_short_array[][2] = {
{0x7F, 0x04},//change to bank4
{0x15, 0x69},
{0x2B, 0xFF},
{0x34, 0x01},
{0x70, 0x08},
{0x7F, 0x01},//change to bank1
{0x36, 0x0E},//
{0x35, 0x3d},
{0x24, 0x01},//update flag
};

2.INT1&INT2开路测试
测试流程：MCU分别检测INT1与INT2相应的GPIO是否都有拉到对的状态。
注：由于目前的设定是INT1与INT2同时拉高与拉低；若INT1与INT2短路，且其中一个INT PIN有开路，单测这项仍没有办法确认，需要结合INT1&INT2短路测试

static const uint8_t pah8011_verify_int_pin_low_array[][2] = {
{0x7F, 0x04},//change to bank4
{0x15, 0x69},
{0x2B, 0xFF},
{0x34, 0x01},
{0x70, 0x08},
{0x7F, 0x01},//change to bank1
{0x36, 0x0C},
{0x35, 0x3c},
{0x24, 0x01},//update flag
};
static const uint8_t pah8011_verify_int_pin_high_array[][2] = {
{0x7F, 0x04},//change to bank4
{0x15, 0x69},
{0x2B, 0xFF},
{0x34, 0x01},
{0x70, 0x08},
{0x7F, 0x01},//change to bank1
{0x36, 0x0C},//
{0x35, 0x3d},
{0x24, 0x01},//update flag
};

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关于PAH8011ES 的 INT1与INT2开短路测试 实现方法

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