AUTOSAR MCAL for SemiDrive E3 功能模块使用介绍：I2C

一、 概述

        本文主要介绍如何使用芯驰提供的 AUTOSAR MCAL 软件包，开发 SemiDrive E3 的 I2C 模块，对 RTC 芯片进行读写操作。

        硬件使用 E3640 GATEWAY 开发板，软件包为 mcal3.1。

图1 硬件环境

二、模块简介

1. E3 系列最多支持 8 个 I2C， mcal 驱动依据芯片特性实现部分功能；目前仅支持 master 模式，支持 7bit 和 10bit 从机地址。

      2. 硬件功能：I2C 使用 TX/RX 共享 FIFO，FIFO 的深度为 64，宽度为 8;

3. 软硬件关联：I2C 的 pin 相关属性请严格参考 EB 示例，SCL/SDA 线硬件请按照标准的 I2C 设计（不要附加其他干扰信号）;外部上拉电阻不合理会导致测量的 I2C 速率无法达到文档标称值。（示例芯片自带的上拉电阻阻值为 2.2K）

 

三、 示例说明

1. 使用配置好的 I2C 模块和 RTC 芯片完成通讯，逻辑分析仪测量验证读写芯片寄存器的过程。
2. 查找 Datasheet 相关章节，找到对应引脚的复用：

GPIO_M4; I2C6; SCL

GPIO_M5; I2C6; SDA

GPIO_X9; I2C3; SCL

GPIO_X10; I2C3; SDA

3. EB配置：

匹配完成 Mcu\Port\I2C 模块的配置。


图2 EB Mcu配置

图3 EB Port复用

图4 EB I2C

4. 修改示例程序：

      根据 I2C 的通讯协议完成读写寄存器操作，从机地址和寄存器详情在芯片手册相关章节中可见。

      写操作：第一个元素为写入寄存器的地址；

      读操作：通过 I2C 读寄存器，需要先写再读。

图5 测试程序1

图6 测试程序2

5. 测试结果

      逻辑分析仪采样为Mcu写入和读取的数据；输出的 log 为Mcu读取到的指定寄存器的数据。


                                                                                                        图7 输出 log

图8 逻辑分析仪采样

 

如对此有更多需求，敬请联系世平集团 ATU 部门，atu.cn@wpi-group.com。

 

 
四、 参考文档

《SemiDrive_E3_MCAL User Guide》
《 E3400 & E3600 Series MCU Datasheet》
《Application Manual RV-8803-C7》

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如有更多需求，欢迎联系大联大世平集团 ATU 部门：atu.sh@wpi-group.com   作者：Alan Li / 李亚楠

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