SEMIDRIVE G9Q 低温测试出现系统死机调试要点

一、 前言

        客户用芯驰 G9Q 平台做的车载网关产品，在做低温 -40℃ 测试过程中出现系统死机，常温下机器可以正常开机。



二、 SEMIDRIVE G9Q 低温测试出现系统死机调试要点

       ① 拿到客户的板子和原理图后，开始调试。

       ② 测试小系统的各路供电电压 0.82V、1.1V、1.8V、3.3V 均正常。接着测试各路电压纹波时，发现 VDD_CPU的纹波比较差，有 60mV 左右，正常的纹波应该在 40mV 左右。

                                                                                                                                                   ▲ 图 1   优化前 VDD_CPU 纹波

       ③ 查看原理图，VDD_CPU 这路电源用的是 MPQ2167AGQE，VDD_AP 用的也是 MPQ2167AGQE，我们测量VDD_AP 的纹波是正常的，在40mV 左右，VDD_CPU 和 VDD_AP 的电压相同，都是 0.82V，根据时序图，这两路电压是同时上电，于是我们试着让 VDD_CPU 这路电源不工作，把 R805 断开，然后飞线把 VDD_CPU 连接到VDD_AP 上，改好电路后，再测试 VDD_CPU 的纹波有改善，在 40mV 左右。

▲ 图 2   优化后 VDD_CPU 纹波

   ④ VDD_CPU 纹波比较差的问题，最终需要客户从 PCB 布局和走线上去排查。我们因为没有客户的 PCB 资料，这里不做讨论，只定位问题。

   ⑤ 测试小系统的上下电时序，发现 AP 域（AP_0V8）上电比较慢，滞后于 VDD_1V8，正常的时序应该是 AP_0V8最先上电。

▲ 图 3   优化前 AP_0V8 上电时序图

    ⑥ 查看原理图，调整电源 AP_0V8 的上电时间，把电容 C920 的容量由 0.1uF 改为 4.7 nF，这样可以减小电源MPQ2167AGQE 的上电延时。

▲ 图 4  AP_0V8 电路图

    ⑦ 对电源 AP_0V8 的上电延时优化后，测试上电时序波形满足要求。

▲ 图 5   优化后 AP_0V8 上电时序图

  ⑧ 我们把硬件优化同步给客户，客户把硬件更新后，做低温 -40℃ 测试，没有出现系统死机的问题。

      以上便是芯驰 SEMIDRIVE G9Q 低温测试出现系统死机调试要点。

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附录：参考文献

      ①《 SD004_G9X_REF_A03_SCH 》

      ②《 G9X 处理器硬件设计指南_Rev0.9.2 》

      ③《 G9Q 处理器数据手册_Rev04.03 》