简介： 最近有部分客户使用 LPC5516/28 的 SDK 默认例程无法通过 USB CVTest 一致性测试。而在 SDK 例程中，需要通过修改宏定义，及修改部分 code，使 USB 设备设置为测试模式才能通过 USB CVTest 测试。   一、CVTest CVTest是 USB-IF

一.概述     主控 MCU LPC5516是一款基于 Arm Cortex-M33 的嵌入式微控制器，运行频率高达 150MHZ，包括以下功能: 高达 96 kB 的片上 SRAM。 最多 256 kB 片上闪存。 高速/全速 USB 主机和具有全速无晶操作的设备接口。 CAN-FD。 五个通用

一、简介         DMA，全称 Direct Memory Access，即直接存储器访问，我想大家都不会陌生，在使用芯片外设传输数据时，应该或多或少都有使用到，其通常用于外设和内存之间或者在内存和内存之间的数据传输。在 MCU 配置好 DMA 的设置后，可以无需占用 CPU 的时间和资源，

NXP LPC5516 是一款高性能 32 位 ARM Cortex-M33 内核微控制器，可以在工业和消费等多应用中使用。它拥有高达 256 KB 的片上闪存，高达 96 KB 的片上 SRAM 容量。此外还具有多个 SPI 接口，有助于实现高效的通信传输。 接下来我们将探讨一下 LPC5516

一、概述 笔者在制作键盘方案的过程中，需要用到定时器每隔一段时间判断是否通过 USB 向主机发送数据，其中的定时器笔者使用到 CTIMER 的 Match 中断。下面则以 NXP5516 中的 simple_match_interrupt 例程讲解如何配置和使用 CTIMER Match Inter

一、概述 NXP LPC5516 有高达 256 kB 的Flash 内存，除去保存程序的代码，还可以用一部分空余的 Flash 空间用于保存需要掉电保留的数据，这时常常用到对芯片内部 Flash 的擦除、读写操作，但在 LPC551x 的数据手册中有一段话，说明了操作内部 Flash 的时钟频率限

概述 在前两篇文章中，我们针对 LPC 的键鼠项目开发时，对于 LPC USB 代码流程的讲解，让大家对于代码的架构以及流程有所了解。在本篇中以及后续的文档中不定期将对于之前没有说明的部分进行补充说明，大家可以当做番外篇或者 DLC 来看。 DLC内容 在使用原厂的 SDK demo 时，大家应该能

概述 LPC5516 是 NXP LPC55XX 系列的一款 General MCU，具有 HighSpeed USB 功能，能够实现最高 8K Report Rate。在高端的电竞外设市场中有着巨大的优势。在上一篇的博文中我们探讨了如果切换 HighSpeed 以及 FullSpeed USB 代

一、概述 华邦 Flash 芯片 W25QXX 系列是一款比较常用的 NOR Flash 芯片，这篇文章介绍如何使用 NXP 的LPC5516 芯片驱动 Flash 芯片W25Q16JV，并对 Flash 芯片进行读写操作。 二、LPC5516 外设初始化 1. LPC5516 外设初始化 W25Q

概述 LPC5516 是 NXP LPC55XX 系列的一款 General MCU，具有 HighSpeed USB 功能，能够实现最高 8K Report Rate。在高端的电竞外设市场中有着巨大的优势。 环境说明 在本文中，我们将会对 LPC5516 SDK 中的 USB 例程进行讲解，具体例