Toshiba 于工业设备应用的2200V双碳化硅MOSFET模块

碳化硅MOSFET寄生体二极管具有极小的反向恢复时间trr和反向恢复电荷Qrr。对于相同额定电流为900V的器件,碳化硅MOSFET寄生二极管的反向电荷仅为相同电压规格的硅基MOSFET的5%。对于桥式电路,可以减小体二极管的死区时间和反向恢复带来的损耗和噪声,便于改进。开关工作频率。碳化硅MOS具高频高效,高耐压,高可靠性,可以实现节能降耗,小体积,低重量,高功率密度。相对应于传统MOSFET以及IGBT有以下优点:

1 高工作频率:可以减小电源系统中电容以及电感或变压器的体积,降低电源成本,让电源实现小型化,美观化。从而实现电源的升级换代。

2 低导通阻抗:碳化硅MOSFET单管最小内阻可以达到15毫欧,轻松达到能效要求,减少散热片使用,降低电源体积和重量,电源温度更低,可靠性更高。

3 耐压高: 一般MOSFET耐压900V,IGBT常见耐压1200V

4 耐温高:碳化硅MOSFET芯片结温高,可靠性和稳定性大大高于传统MOSFET

三电平电路每个桥臂由4个IGBT/MOS和6个二极管构成。三电平电路在拓扑结构上相对更为复杂,相对于传统二电平逆变电路输出高、低两个电平,电路可以通过上、下管的开通输出高、低电平,通过中间二极管的钳位作用输出零电平,总共三个电平状态,因此被成为三电平电路。

当上桥臂的两管导通,每管承受的应力平台电压为V/2

当下桥臂的两个管导通,每管承受的应力平台电压为V/2

三电平可以降低开关频率,较少开关损耗,可选用耐压等级较低的功率元件,但缺点为元件数多,成本高,控制电路较复杂

二电平电路,工作方式是180°导通方式,每次换相都是在同一相上下两个桥臂之间进行的。它们交替导通。在换流瞬间,为了防止同一相上下两臂的主管同时导通而引起直流电源的短路,通常采用“先断后通”的方法,即先给应关断的管关断信号,待其关断后留一定时间裕量,然后再给应导通的管开通信号,两者之间留一个短暂的死区时间。可以看出二电平,如果需要承受更高的电压,就需要选用耐压等级更高的功率元件,因此耐压高SIC MOS的元件就成为首选。

『东芝推出2200V双碳化硅(SiC)MOSFET模块—MG250YD2YMS3。 新模块采用东芝第3代SiC MOSFET芯片,其漏极电流(DC)额定值为250A,适用于光伏发电系统和储能系统等使用DC 1500V的应用。类似上述的工业应用通常使用DC 1000V或更低功率,其功率器件多为1200V或1700V产品。

然而,预计未来几年内DC 1500V将得到广泛应用,因此东芝发布了业界首款2200V产品。MG250YD2YMS3具有低导通损耗和0.7V(典型值)的低漏极-源极导通电压(传感器)。此外,它还具有较低的开通和关断损耗,分别为14mJ(典型值)和11mJ(典型值),与典型的硅(Si)IGBT相比降低了约90%。这些特性均有助于提高设备效率。由于MG250YD2YMS3可实现较低的开关损耗,用户可采用模块数量更少的两电平电路取代传统的三电平电路,有助于设备的小型化。』

(作者:东芝;出处:https://toshiba-semicon-storage.com/cn/company/news/news-topics/2023/08/sic-power-devices-20230829-1.html )

MG250YD2YMS3 规格书


应用

工业设备
  • 可再生能源发电系统(光伏发电系统等)
  • 储能系统
  • 工业设备用电机控制设备
  • 高频DC-DC转换器等设备


特性 
  • 低漏极-源极导通电压(传感器):
    VDS(on)sense=0.7V(典型值)(ID=250A、VGS=+20V、Tch=25℃)
  • 低开通损耗:
    Eon=14mJ(典型值)(VDD=1100V、ID=250A、Tch=150℃)
  • 低关断损耗:
    Eoff=11mJ(典型值)(VDD=1100V、ID=250A、Tch=150℃)
  • 低寄生电感:
    LsPN=12nH(典型值)


主要规格

 

资料来源: 东芝(https://toshiba-semicon-storage.com/cn/company/news/news-topics/2023/08/sic-power-devices-20230829-1.html)

参考电路时序图 I 

Inductive Load Switching Test Circuit(High side Switching)


Inductive Load Switching Test Circuit(Low side Switching)



Timing Chart(MOSFET part)



参考电路时序图 II


Inductive Load Reverse Recovery Test Circuit(High side Switching)



Inductive Load Reverse Recovery Test Circuit(Low side Switching)



Timing Chart(Diode part)



资料来源: 东芝(https://toshiba-semicon-storage.com/info/MG250YD2YMS3_datasheet_en_20230726.pdf?did=153423&prodName=MG250YD2YMS3)

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参考来源

Toshiba: https://toshiba-semicon-storage.com/cn/company/news/news-topics/2023/08/sic-power-devices-20230829-1.htmlhttps://toshiba-semicon-storage.com/cn/company/news/news-topics/2023/08/sic-power-devices-20230829-1.html

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